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平行平晶 優(yōu)質(zhì)高精度平行平晶
詳細(xì)信息品牌：MTS 型號：MAT6125S 加工定制：是 適用范圍：千分尺計(jì)量檢驗(yàn) 精度：0.001mm 測量范圍：0-100 mm 平行平晶 優(yōu)質(zhì)高精度平行平晶
平行平晶 優(yōu)質(zhì)高精度平行平晶平晶介紹：
與平面平晶相似，把它與加工鏡面相接觸，就會產(chǎn)生干涉條紋，通過對此干涉條文的測量，可以求得工件被加工鏡面的平面度和平行度。平行平晶的兩面均為高精度的平整鏡面，且相互間的平行度很高，適用于檢測各種計(jì)量器具的測量工作面的平面度及平行度。平行平晶共分為4個(gè)系列，每個(gè)系列各分六組，每組四塊。
平晶產(chǎn)品規(guī)格：
每組平行平晶共四塊，分四個(gè)尺寸系列組
測量面上平面度偏差：＜0.1UM
平行度局部偏差： ＞0.03UM
測量面平行度誤差：組1系列允許差值：0.06UM，
組2、3系列允許差值：0.08UM，
組4系列允許差值：0.1UM。
組1
平行平晶
0-25mm
4塊/組
組2
平行平晶
25-50mm
4塊/組
組3
平行平晶
50-75mm
4塊/組
組4
平行平晶
75-100mm
4塊/組
平行平晶 優(yōu)質(zhì)高精度平行平晶尺寸系列表
組號
0-25
25-50
50-75
75-100
1
15.00， 15.12
15.25， 15.39
40.00， 40.12
40.25， 40.37
65.00， 65.12
65.25， 65.37
90.00， 90.12
90.25， 90.37
2
15.12， 15.25
15.37， 15.50
40.12， 40.25
40.37， 40.50
65.12， 65.25
65.37， 65.50
90.12， 90.25
90.37， 90.50
3
15.25， 15.37
15.50， 15.62
40.25， 40.37
40.50， 40.62
65.25， 65.37
65.50， 65.62
90.25， 90.37
90.50， 90.62
4
15.37， 15.50
15.62， 15.75
40.37， 40.50
40.62， 40.75
65.37， 65.50
65.62， 65.75
90.37， 90.50
90.62， 90.75
5
15.50， 15.62
15.75， 15.87
40.50， 40.62
40.75， 40.87
65.50， 65.62
65.75， 65.87
90.50， 90.62
90.75， 90.87
6
15.62， 15.75
15.87， 16.00
40.62， 40.75
40.87， 41.00
65.62， 65.75
65.87， 66.00
90.62， 90.75
90.87， 91.00
平行平晶 優(yōu)質(zhì)高精度平行平晶應(yīng)用領(lǐng)域
平行平晶適用于干涉法測量千分尺、卡規(guī)和千分表等測量面平面度、平面平行度，。也適用于高等院校、科學(xué)研究等單位做平行度等檢測
供應(yīng)江蘇平行平面平晶，無錫平行平面平晶，江陰平行平面平晶，宜興平行平面平晶，蘇州平行平面平晶，昆山平行平面平晶，常熟平行平面平晶，張家港平行平面平晶，常州平行平面平晶，鎮(zhèn)江平行平面平晶，丹陽平行平面平晶，南京平行平面平晶，揚(yáng)州平行平面平晶，泰州平行平面平晶，靖江平行平面平晶，南通平行平面平晶，鹽城平行平面平晶
一、簡介
平晶有平面平晶和平行平晶兩種。平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差，為用平面平晶檢驗(yàn)量塊測量面的平面度誤差。平行平晶的兩個(gè)光學(xué)測量平面是相互平行的，用于測量兩高光潔表面的平行度誤差，例如千分尺兩測量面的平行度誤差.平晶用光學(xué)玻璃或石英玻璃制造。圓柱形平面平晶的直徑通常為 45～150毫米。其光學(xué)測量平面的平面度誤差為:1級精度的為0.03～0.05微米；2級精度的為0.1微米。常見的長方形平面平晶的有效長度一般為200毫米。
二、用途
平行平晶是用于以干涉法測量塊規(guī)，以及檢驗(yàn)塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面、測量儀器及測 平晶量工具量面的研合性和平面度的 常用工具。適用于光學(xué)加工廠、廠礦企業(yè)計(jì)量室、精密加工車間、閥門密封面現(xiàn)場檢測使用，也適用于高等院校、科學(xué)研究等單位做平面度等檢測三、規(guī)格1、平面平晶 YDF-1 標(biāo)準(zhǔn)外形尺寸 單位：mm規(guī)格30 45 60 80 100 150 200 250直徑30 45 60 80 100 150 200 250高度15 15 20 20 25 30 40 45 平晶特殊規(guī)格尺寸平面平晶,環(huán)形平面平晶,方形平面平晶可定做.2、平面平晶制成兩種精度： 1級 和 2級3、平面平晶工作面的平面度偏差允許值為：直徑為 30至60mm 1級平晶 0.03μm直徑為 30至60mm 2級平晶 0.1 μm直徑為 80至150mm 1級平晶 0.05μm直徑為 80至150mm 2級平晶 0.1 μm更大尺寸平面平晶平面度偏差允許值，根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)。4、平面平晶工作面的局部偏差允許值為： 0.03μm5、平面平晶測量工作應(yīng)在室溫2 0℃±3℃條件下保持?jǐn)?shù)小時(shí)后進(jìn)行。四、測量方法
平晶是利用光波干涉現(xiàn)象測量平面度誤差的，故其測量方法稱為平晶干涉法（圖2）,也稱技術(shù)光波干涉法。測量時(shí),把平晶放在被測表面上,且與被測表面形成一個(gè)很小的楔角 θ，以單色光源照射時(shí)會產(chǎn)生干涉條紋。干涉條紋的位置與光線的入射角有關(guān)。如入射光線垂直于被測表面，且平晶與被測表面間的間隙很小,則由平晶測量面P反射的光線與被測表面反射的光線在測量面 P發(fā)生干涉而出現(xiàn)明或暗的干涉條紋。若在白光下，則出現(xiàn)彩色干涉條紋。如干涉條紋平直，相互平行,且分布均勻,則表示被測表面的平面度很好；如干涉條紋彎曲，則表示平面度不好。其誤差值為f= (v/ω)×(λ/2)λ為光波波長，白光的平均波長為0.58μm,ν為干涉帶彎曲量，ω為干涉帶間距。材 料 BK7、石英
直 徑 25mm—350mm
厚 度 0mm～25mm；25mm～50mm;50mm～75mm;
75mm～100mm;100mm～125mm;125mm～150mm
150mm～175mm;175mm～200mm平 面 度 0.03um
表面質(zhì)量 60—40
平 行 度 0.2um
注：可根據(jù)用戶需求訂制
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留 言
- 聯(lián)系人：周紅偉
- 電 話：0510-66652165
- 手 機(jī)：13584954712
- 傳 真：0510-68930023
- 郵 編：214000
- 地 址：江蘇省無錫碩放工業(yè)集中區(qū)五期C16-3號廠房
- 網(wǎng) 址：
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http://jimeiyuan.cn