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平面平晶 優(yōu)質(zhì)高精度平面平晶
詳細信息| 詢價留言品牌：MTS 型號：MAT6125S 加工定制：是 適用范圍：千分尺計量檢驗 精度：0.001mm 測量范圍：0-200 mm 平面平晶 優(yōu)質(zhì)高精度平面平晶
供應(yīng)江蘇平面平晶，無錫平面平晶，江陰平面平晶，宜興平面平晶，蘇州平面平晶，昆山平面平晶，常熟平面平晶，張家港平面平晶，常州平面平晶，鎮(zhèn)江平面平晶，丹陽平面平晶，南京平面平晶，揚州平面平晶，泰州平面平晶，靖江平面平晶，南通平面平晶，鹽城平面平晶
一、平面平晶 優(yōu)質(zhì)高精度平面平晶簡介
平面平晶是具有兩個（或一個）光學(xué)測量平面的正圓柱形或長方形的量規(guī)。光學(xué)測量平面是表面粗糙度數(shù)值和平面度誤差都極小的玻璃平面，它能夠產(chǎn)生光波干涉條紋（見激光測長技術(shù)）。平晶有平面平晶和平行平晶兩種。平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差，為用平面平晶檢驗量塊測量面的平面度誤差。平行平晶的兩個光學(xué)測量平面是相互平行的，用于測量兩高光潔表面的平行度誤差，例如千分尺兩測量面的平行度誤差.平晶用光學(xué)玻璃或石英玻璃制造。圓柱形平面平晶的直徑通常為 45～150毫米。其光學(xué)測量平面的平面度誤差為:1級精度的為0.03～0.05微米；2級精度的為0.1微米。常見的長方形平面平晶的有效長度一般為200毫米。
二、平面平晶 優(yōu)質(zhì)高精度平面平晶用途
平行平晶是用于以干涉法測量塊規(guī)，以及檢驗塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面、測量儀器及測 平晶量工具量面的研合性和平面度的 常用工具。適用于光學(xué)加工廠、廠礦企業(yè)計量室、精密加工車間、閥門密封面現(xiàn)場檢測使用，也適用于高等院校、科學(xué)研究等單位做平面度等檢測。
三、平面平晶 優(yōu)質(zhì)高精度平面平晶規(guī)格1、平面平晶 YDF-1 標(biāo)準外形尺寸 單位：mm規(guī)格30 45 60 80 100 150 200 250直徑30 45 60 80 100 150 200 250高度15 15 20 20 25 30 40 45 平晶特殊規(guī)格尺寸平面平晶,環(huán)形平面平晶,方形平面平晶可定做.2、平面平晶制成兩種精度： 1級 和 2級3、平面平晶工作面的平面度偏差允許值為：直徑為 30至60mm 1級平晶 0.03μm直徑為 30至60mm 2級平晶 0.1 μm直徑為 80至150mm 1級平晶 0.05μm直徑為 80至150mm 2級平晶 0.1 μm更大尺寸平面平晶平面度偏差允許值，根據(jù)國家標(biāo)準。4、平面平晶工作面的局部偏差允許值為： 0.03μm5、平面平晶測量工作應(yīng)在室溫2 0℃±3℃條件下保持數(shù)小時后進行。
四、平面平晶 優(yōu)質(zhì)高精度平面平晶測量方法
平晶是利用光波干涉現(xiàn)象測量平面度誤差的，故其測量方法稱為平晶干涉法（圖2）,也稱技術(shù)光波干涉法。測量時,把平晶放在被測表面上,且與被測表面形成一個很小的楔角 θ，以單色光源照射時會產(chǎn)生干涉條紋。干涉條紋的位置與光線的入射角有關(guān)。如入射光線垂直于被測表面，且平晶與被測表面間的間隙很小,則由平晶測量面P反射的光線與被測表面反射的光線在測量面 P發(fā)生干涉而出現(xiàn)明或暗的干涉條紋。若在白光下，則出現(xiàn)彩色干涉條紋。如干涉條紋平直，相互平行,且分布均勻,則表示被測表面的平面度很好；如干涉條紋彎曲，則表示平面度不好。其誤差值為f= (v/ω)×(λ/2)λ為光波波長，白光的平均波長為0.58μm,ν為干涉帶彎曲量，ω為干涉帶間距。材 料 BK7、石英
直 徑 25mm—350mm
厚 度 10mm～40mm
平 面 度 0.03um～0.08um
表面質(zhì)量 60—40
平 行 度
1.37sec
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