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    德國(guó)高精度涂鍍層測(cè)厚儀EPK MINITEST

    產(chǎn)品型號(hào): MINITEST 3100
    品  牌: 德國(guó)EPK
    • ≧1 臺(tái)
      ¥1000.00
    所 在 地: 江蘇無(wú)錫濱湖區(qū)
    更新日期: 2023-09-17
    詳細(xì)信息
     品牌:德國(guó)EPK  加工定制:否  型號(hào):MINITEST 3100  
     類型:涂層  測(cè)量范圍:0-1.6 mm 顯示方式:LCD液晶顯示  
     電源電壓:9 V 外形尺寸:64*115*25 mm 顯示方式:LCD液晶顯示  

    德國(guó)高精度涂鍍層測(cè)厚儀EPK MINITEST

     

    德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn):
    MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
    所有型號(hào)均可配所有探頭;
    可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
    可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

     


    德國(guó)高精度涂鍍層測(cè)厚儀EPK MINITEST功能

     
    型號(hào)
    1100
    2100
    3100
    4100
    MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
    應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))
    1
    1
    10
    99
    每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì),可設(shè)寬容度極限值)
    -
    1
    10
    99
    可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)
    -
    1
    500
    500
    數(shù)據(jù)總量
    1
    10000
    10000
    10000
    MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
    讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar
    -
    讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
    -
    -
    組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar
    -
    -
    組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
    -
    -
    存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
    -
    -
    -
    分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值
    -
    -
    顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間
    -
    其他功能
    透過(guò)涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)
    -
    在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)
    利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)
    補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset)
    -
    -
    外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能
    -
    保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置
    更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值
    設(shè)置極限值
    -
    -
    公英制轉(zhuǎn)換
    連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別***大***小值
    -
    -
    連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
    -
    -
    浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送
    組內(nèi)單值延遲顯示
    -
    連續(xù)測(cè)量模式中顯示***小值

    可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
    所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇***適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
    F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
    N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層

    FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
    探頭
    量程
    低端
    分辨率
    誤差
    ***小曲率
    半徑(凸/凹)
    ***小測(cè)量
    區(qū)域直徑
    ***小基
    體厚度
    探頭尺寸


    應(yīng)
     
     
     
     
     
     
     
    F05
    0-500μm
    0.1μm
    ±(1%±0.7μm)
    1/5mm
    3mm
    0.2mm
    φ15x62mm
    F1.6
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    0.5mm
    φ15x62mm
    F1.6/90
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    平面/6mm
    5mm
    0.5mm
    φ8x170mm
    F3
    0-3000μm
    0.2μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    0.5mm
    φ15x62mm
    F10
    0-10mm
    5μm
    ±(1%±10μm)
    5/16mm
    20mm
    1mm
    φ25x46mm
    F20
    0-20mm
    10μm
    ±(1%±10μm)
    10/30mm
    40mm
    2mm
    φ40x66mm
    F50
    0-50mm
    10μm
    ±(3%±50μm)
    50/200mm
    300mm
    2mm
    φ45x70mm

     
     
    FN1.6
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    F0.5mm
    N50μm
    φ15x62mm
    FN1.6P
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    平面
    30mm
    F0.5mm
    N50μm
    φ21x89mm
    FN2
    0-2000μm
    0.2μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    F0.5mm
    N50μm
    φ15x62mm



     
     
     
     
     
     
     
     
     
    N02
    0-200μm
    0.1μm
    ±(1%±0.5μm)
    1/10mm
    2mm
    50μm
    φ16x70mm
    N.08Cr
    0-80μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    2.5mm
    2mm
    100μm
    φ15x62mm
    N1.6
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    2mm
    50μm
    φ15x62mm
    N1.6/90
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    平面/10mm
    5mm
    50μm
    φ13x170mm
    N10
    0-10mm
    10μm
    ±(1%±25μm)
    25/100mm
    50mm
    50μm
    φ60x50mm
    N20
    0-20mm
    10μm
    ±(1%±50μm)
    25/100mm
    70mm
    50μm
    φ65x75mm
    N100
    0-100mm
    100μm
    ±(1%±0.3mm)
    100mm/平面
    200mm
    50μm
    φ126x155mm
    CN02
    10-200μm
    0.2μm
    ±(1%±1μm)
    平面
    7mm
    無(wú)限制
    φ17x80mm


     
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